Improving the sensitivity of scanning probe microscopy with mechanical vibrations
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
Scanning hall probe microscopy technique for investigation of magnetic properties
Scanning Hall Probe Microscopy (SHPM) is a scanning probe microscopy technique developed to observe and image magnetic fields locally. This method is based on application of the Hall Effect, supplied by a micro hall probe attached to the end of cantilever as a sensor. SHPM provides direct quantitative information on the magnetic state of a material and can also image magnetic induction under a...
متن کاملScanning hall probe microscopy technique for investigation of magnetic properties
Scanning Hall Probe Microscopy (SHPM) is a scanning probe microscopy technique developed to observe and image magnetic fields locally. This method is based on application of the Hall Effect, supplied by a micro hall probe attached to the end of cantilever as a sensor. SHPM provides direct quantitative information on the magnetic state of a material and can also image magnetic induction under a...
متن کاملmodification of nanoclay for improving the physico-mechanical properties of dental adhesives
هدف اصلی این مطالعه تهیه یک سامانه نوین چسب عاجی دندانی بر پایه نانورس پیوند شده با پلی متاکریلیک اسید، نانورس پیوند شده با پلی اکریلیک اسید، مخلوط نانوسیلیکا و نانورس پیوند شده با پلی متاکریلیک اسید، مخلوط نانوسیلیکا و نانورس پیوند شده با پلی اکریلیک اسید و نانورس پیوند شده با کیتوسان اصلاح شده با گلایسیدیل متاکریلات است. پیوند پلی متاکریلیک اسید و پلی اکریلیک اسید بر ری سطح نانورس در حضور و ...
Scanning probe microscopy.
During the past year, scanning probe microscopy, especially atomic force microscopy (AFM), has taken root in the biological sciences community, as is evident from the large number of publications and from the variety of specialized journals in which these papers appear. Furthermore, there is a strong indication that the technique is evolving from a qualitative imaging tool to a probe of the cri...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Applied Physics Letters
سال: 2018
ISSN: 0003-6951,1077-3118
DOI: 10.1063/1.5051620